金相导电冷镶嵌树脂效果不佳可能由导电填料分布不均、树脂收缩率过高、固化工艺控制不当、样品预处理不足或树脂与样品兼容性差等因素导致:
导电填料分布不均
原因:导电冷镶嵌树脂中通常添加了金属粉末(如铜粉)或其他导电填料以实现导电性。如果填料在树脂中分布不均匀,会导致局部导电性差异,影响整体导电效果。
影响:导电性不稳定,可能无法满足特定测试需求,如扫描电镜(SEM)下的电学测试。
树脂收缩率过高
原因:冷镶嵌树脂在固化过程中可能会发生收缩,如果收缩率过高,会导致样品与树脂之间产生缝隙或应力,影响导电性和样品保护效果。
影响:导电性下降,样品边缘可能因应力而损坏,影响后续观察和分析。
固化工艺控制不当
影响:导电性不稳定,样品内部可能因树脂渗透不足而存在缺陷或损伤。
解决这些问题,建议使用德国古莎的泰克诺维5000,Technovit 5000 是铜粉导电丙烯酸型粉液双组份冷镶嵌树脂,用于对压力温度敏感的试样做SEM观测的应用。精细纯铜粉做为填充材料,不需要预混合,避免铜粉分散不均匀而导致SEM成像不清的情况。高流动性和7分钟快速固化,大大增强了制样的工作效率。
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